Scanning Electron Microscope (SEM)

Scanning electron microscope (SEM)
ยี่ห้อ : JEOL  รุ่น : JSM6460LV

วัตถุประสงค์การใช้งาน : ศึกษาสัณฐานและรายละเอียดของลักษณะพื้นผิวของตัวอย่าง นิยมนำมาตรวจสอบลักษณะผิว ภายนอกของตัวอย่าง

ความสามารถของเครื่อง/ความละเอียด : ใช้ศึกษาโครงสร้างของผิวเซลล์หรือผิววัตถุ โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไป บนผิวของวัตถุทำให้ได้ภาพที่มีลักษณะเป็น 3 มิติ