รายการเครื่องมือTOOLS
Explore
Scanning Electron Microscope (SEM)
Scanning electron microscope (SEM) ยี่ห้อ : JEOL รุ่น : JSM6460LV
วัตถุประสงค์การใช้งาน : ศึกษาสัณฐานและรายละเอียดของลักษณะพื้นผิวของตัวอย่าง นิยมนำมาตรวจสอบลักษณะผิว ภายนอกของตัวอย่างความสามารถของเครื่อง/ความละเอียด :...
Inductively Couple Plasma Mass Spectrometer (ICP-MS)
Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer (ICP-MS) ยี่ห้อ : Perkin – Elmer SCIEX รุ่น : Elan DRC-e
ความสามารถของเครื่อง/ความละเอียด...
Ultramicrotome
บริษัท EDEN Instruments
วัตถุประสงค์การใช้ :
ความสามารถของเครื่อง/ความละเอียด :
