รหัสอุปกรณ์ :	SISU-009
ชื่อเครื่องมือวิทยาศาสตร์ :	Scanning electron microscope (SEM)
ห้อง :	SC1-109
สถานะ :	ชำรุด
รายละเอียด :	Scanning electron microscope (SEM) ยี่ห้อ : JEOL รุ่น : JSM6460LV วัตถุประสงค์การใช้งาน : ศึกษาสัณฐานและรายละเอียดของลักษณะพื้นผิวของตัวอย่าง นิยมนำมาตรวจสอบลักษณะผิว ภายนอกของตัวอย่าง ความสามารถของเครื่อง/ความละเอียด : ใช้ศึกษาโครงสร้างของผิวเซลล์หรือผิววัตถุ โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไป บนผิวของวัตถุทำให้ได้ภาพที่มีลักษณะเป็น 3 มิติ
รูป :
	จองเครื่องมือ