|
42 .กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) |
|
เพื่อดูความหนาของชั้นฟิล์ม |
|
พิทยารัตน์ กองจันทร์ |
เริ่ม: |
06-12-2024 08:30 |
ถึง: |
06-12-2024 16:30 |
|
|
|
นิสิตปริญญาตรี |
|
อนุมัติ |
|
แผ่นซิลิกอนขนาด 1ซม.*1ซม. |
|
ผศ.ดร.อาทิตย์ ฉิ่งสูงเนิน |
|
- |
รูป |
|
วันเวลาในการลงทะเบียนจอง |
2024-12-03 10:28:25 |